아드반테스트, 신제품 3종 출시
"자동차 SoC 테스트비용 절감"
"자동차 SoC 테스트비용 절감"
아드반테스트 제공
[디지털타임스 이미정 기자] 반도체 테스트 장비 공급 업체 아드반테스트(Advantest Corporation)가 자동차용 애플리케이션에 사용되는 디바이스 대량 테스트를 위한 신제품을 선보였다.
31일 아드반테스트는 T2000 플랫폼의 범위 확장을 위한 RND520, 2GDME 등 테스트 헤드와 2개의 DPS192A 모듈(사진)을 출시했다고 밝혔다.
신제품은 테스트 능력을 향상시키고 빠른 병렬 처리가 가능해 자동차에 사용되는 시스템반도체(SoC) 디바이스의 테스트 비용을 줄일 수 있다.
자동차용 반도체 시장은 2022년까지 연간 9.6%의 복합 성장률을 보일 것으로 예상된다.
아드반테스트 관계자는 "자동차의 모든 부분에서 IC가 집적화되면서 반도체 부품은 빠르게 증가하고 있다"며 "오토모티브 디바이스 시장의 잠재력에 대응하기 위해서는 자동차 SoC를 위한 고성능, 저비용의 효율적인 테스트 솔루션이 필요하다"고 말했다.
이번에 출시된 테스트 헤드인 RND520은 아드반테스트의 다이렉트 도킹(Direct docking) 테스트 옵션 대응과 최대 핀 수를 제공하는 52개의 슬롯이 있다. HIFIX (high-fidelity tester access fixture) 제품 라인의 시리즈로, 새로운 테스트 헤드는 최대 병렬 웨이퍼 테스트를 가능하도록 지원한다. 또 웨이퍼 테스트 중에 안정적인 측정을 보장하기 위해 센터 클램프 기술을 사용하면서 이전 제품보다 40% 더 큰 면적을 제공한다. 테스트 헤드는 최대 175도까지 확장된 온도 범위에서 동작 할 수도 있다. 향상된 2GDME 디지털 모듈은 256개의 채널을 활용해 최대 2Gbps의 속도로 작동하는 마이크로콘트롤러(MCU), 가속처리장치(APU), 주문형 반도체(ASIC), 프로그래머블반도체(FPGA)를 포함한 자동차 전자 제품에 사용되는 광범위한 SoC 장치를 테스트할 수 있다.
32 개의 I/O 채널마다 전용 고성능 파라 메트릭 측정 장치(HPMU)를 갖추고 있으며 모든 I/O 채널에 대해 최대 60밀리 암페어(㎃)까지 확장된 전류 용량을 제공한다. 이 모듈은 전기적 스트레스 테스트와 특성평가 목적의 임의 파형 발생기(AWG)와 디지타이저(DGT) 기능을 제공해 고전압 애플리케이션에 대응한다.
96 채널 DPS192A 장치 전원 공급 장치(Power supply)는 핀 수가 많은 자동차 SoC의 병렬 테스트를 가능하게 한다. 이 장치는 향상된 슬루 레이트 컨트롤(slew-rate control)과 전력 무결성을 평가하는 추적기능(trace function), 공급 전류 측정을 위한 샘플링 속도를 개선하는 평균화 기능(averaging function), IDD 스펙트럼 측정을 위한 새로운 테스트 방법을 가능하게 하는 연속 샘플링 기능이 포함됐다.
아드반테스트 관계자는 "다양한 능력의 T2000 테스트 플랫폼은 소품종, 고집적방식을 요구하는 SoC 디바이스와 기타 IC를 평가하는 데 이상적"이라며 "이 시스템을 통해 사용자는 최소한의 자본 투자로 변화하는 시장 요구에 빠르게 대응할 수 있을 뿐 아니라 신제품의 개발 시간을 단축할 수 있다"고 설명했다.
이미정기자 lmj0919@
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