유니테스트 'UNI530' 개발… 낸드는 물론 노어플래시까지 검사
반도체 검사장비 개발업체인 유니테스트(대표 김종현)는 고성능 플래시메모리 테스트 장비인 `UNI530'을 개발했다고 22일 밝혔다.
UNI530은 낸드플래시는 물론 노어플래시 메모리까지 검사가 가능하며, 300Mbps 속도로 한번에 최대 256개의 칩을 검사할 수 있는 장비라고 회사는 설명했다.
특히 테스트용 메인보드를 확장할 수 있도록 설계, 최대 1024개의 칩을 한번에 검사할 수도 있어 뛰어난 양산성을 확보했다고 회사는 덧붙였다.
또 검사 프로그램만 추가하면 플래시메모리 외에도 저용량의 D램이나 슈도S램, 멀티칩패키지(MCP) 등도 검사할 수 있는 다용성도 갖췄다고 회사는 설명했다. 회사는 이번 제품기술을 바탕으로 앞으로 MCP 테스터 시장에도 진출할 계획이다.
회사는 1년전부터 하이닉스반도체와 공동개발을 통해 이번 장비를 개발하는 데 성공했으며, 하이닉스의 양산성 검증 이후 장비를 납품할 예정이다.
회사 관계자는 "플래시메모리를 웨이퍼 상태에서가 아니라, 개별 칩 단위로 검사할 수 있는 국산 장비는 처음 개발된 것"이라며 "세계 메모리 테스터 장비 시장을 독점하고 있는 어드반테스트 장비와 비교해도 품질에서 뒤지지 않는데다 가격은 절반 이하여서 경쟁력이 높다"라고 말했다.
유니테스트는 4년전 D램 테스터를 개발한 이후 최근 DDR3 테스터를 최초로 국산화했고, 이번에 플래시메모리 테스터까지 국산화해 메모리 주검사 장비의 풀라인업을 갖추게 됐다.
반도체 검사장비 개발업체인 유니테스트(대표 김종현)는 고성능 플래시메모리 테스트 장비인 `UNI530'을 개발했다고 22일 밝혔다.
UNI530은 낸드플래시는 물론 노어플래시 메모리까지 검사가 가능하며, 300Mbps 속도로 한번에 최대 256개의 칩을 검사할 수 있는 장비라고 회사는 설명했다.
특히 테스트용 메인보드를 확장할 수 있도록 설계, 최대 1024개의 칩을 한번에 검사할 수도 있어 뛰어난 양산성을 확보했다고 회사는 덧붙였다.
또 검사 프로그램만 추가하면 플래시메모리 외에도 저용량의 D램이나 슈도S램, 멀티칩패키지(MCP) 등도 검사할 수 있는 다용성도 갖췄다고 회사는 설명했다. 회사는 이번 제품기술을 바탕으로 앞으로 MCP 테스터 시장에도 진출할 계획이다.
회사는 1년전부터 하이닉스반도체와 공동개발을 통해 이번 장비를 개발하는 데 성공했으며, 하이닉스의 양산성 검증 이후 장비를 납품할 예정이다.
회사 관계자는 "플래시메모리를 웨이퍼 상태에서가 아니라, 개별 칩 단위로 검사할 수 있는 국산 장비는 처음 개발된 것"이라며 "세계 메모리 테스터 장비 시장을 독점하고 있는 어드반테스트 장비와 비교해도 품질에서 뒤지지 않는데다 가격은 절반 이하여서 경쟁력이 높다"라고 말했다.
유니테스트는 4년전 D램 테스터를 개발한 이후 최근 DDR3 테스터를 최초로 국산화했고, 이번에 플래시메모리 테스터까지 국산화해 메모리 주검사 장비의 풀라인업을 갖추게 됐다.
