아드반테스트, 광학 샘플링 시스템 공개

반도체 테스트 장비 업체인 아드반테스트는 차세대 통신 기술과 첨단운전자지원시스템(ADAS)에 쓰이는 'TAS7400TS' 테라헤르츠(㎔) 광학 샘플링 분석 시스템의 고주파 해상도 옵션을 공개했다고 4일 밝혔다.

이는 밀리비터파 레이더 기술에 필수적인 전파 흡수체와 기판 재료 등의 고주파 특성 평가에서 효율적인 측정 방법을 제공한다고 회사측은 소개했다. 회사의 광학 샘플링 시스템은 펄스전자기장을 활용해 광대역에서 일괄 측정을 가능하게 한다.

회사 관계자는 "더 작은 크기의 광학 샘플링 시스템으로 비용과 공간을 절약하는 효과를 얻을 수 있다"며 "맵핑 측정 옵션을 사용해 표면 주파수 특정을 분석하는 것도 가능하다"고 설명했다.

이 솔루션은 오는 11월 8일부터 10일까지 열리는 JASIS 2021(도쿄 분석&과학기기 박람회), 같은 달 24일부터 26일까지 열리는 MWE 2021(마이크로웨이브 워크숍&전시회) 등에서 공개될 예정이다.

박정일기자 comja77@dt.co.kr