한국NI, SEMICON KOREA 2015에서 반도체 테스트 비용을 절감하는 통합 솔루션 공개

한국내쇼날인스트루먼트(www.ni.com/korea, 이하 한국NI)는 오는 2월 4일부터 6일까지 서울 코엑스(COEX)에서 개최되는 'SEMICON KOREA 2015'에 참가하여 테스트 비용을 절감할 수 있는 반도체 개발ㆍ검증ㆍ테스트ㆍ양산 통합 솔루션과 데모를 선보인다고 밝혔다.

반도체 테스트 비용을 절감할 수 있는 솔루션 중 하나인 반도체 테스트 시스템(STS, Semiconductor Test System)은 반도체 양산 환경에서 사용할 수 있으며, 기존의 ATE 테스터보다 작은 작업 공간에서 사용 가능하며 전력 소모량과 유지보수 노력이 줄어들기 때문에 테스트 비용을 절약할 수 있다는 장점이 있다. 또한, 비용 최적화된 고성능 테스트가 가능하기에 최근 이슈가 많은 RF 전력 증폭기 (RF PA),가속도계, 전력 관리 IC(PMIC)등과 같은 RF/아날로그 중심 반도체의 RF 및 혼합 신호 테스트에 이상적이다. 700V 이상의 고전압이 요구되는 Motor Driver IC를 디자인할 때 효율적인 고전력 PXI 테스터도 함께 전시 될 예정이다.

한국NI 반도체 테스트 솔루션 담당 이동희 대리는 "Future Test Challenges를 논의하는 Test Forum(2/5,코엑스)에 참석하시면 NI STS와 PXI의 효율성을 분석할 수 있다고 말했다."

한편, 한국NI의 부스(코엑스 3층 D홀 5536)에서는 전문 어플리케이션 엔지니어의 데모 시연, 이벤트 및 제품 상담이 함께 진행될 예정이다.

제품에 대한 보다 자세한 사항은 한국NI 홈페이지(http://ni.com/korea/sts를 통해 확인 가능하다.

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